X射線鍍層測厚儀XDV-μ/XDV-u-PCB

描述：品牌：菲希爾X/Y方向：250*220mm；Z軸：140mmX/Y平臺移動速度：60mm/s

聯系yoplay games

留言咨詢

公司產品系列

Product range

咨詢熱線：

4006655066

相關文章

Articles

詳細內容/ Product Details

適用于無損分析和測量極微小部件機構上鍍層的厚度，即使是復雜的鍍層結構，也同樣應付自如。

1、測量極微小部件結構，如印制線路板、接插件或引線框架等；

2、分析超薄鍍層，如小于 0.1 μm的Au和Pd鍍層；

3、測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層；

4、分析復雜的多鍍層系統；

5、全自動測量，如在質量控制領域。

項目	XDV-u/XDV-u-PCB
品牌	菲希爾
可分析鍍層數	可同時測量23層鍍層，同時分析24種元素,進行厚度測量和材料分析，從Al到U
計算方法	采用基本參數法（內置純元素頻譜庫），沒有標準片也可以測量
底材影響	無損測量鍍層時不受底材影響
特點	能夠顯示mq值（測量品質顯示）
放大倍數	達到1080X （光學變焦: 30X，90X，270X；數字變焦: 1X，2X，3X，4X）
可用樣品平臺面積	寬x深：370mm x 320mm，開槽式設計，可測量大面積線路板
樣品重量	5kg
樣品高度	135mm
測量精度	儀器校正后，測量多鍍層標準片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um ，精度：測量平均值與標準片標示值之差：（Au）≤5%、（Pd）≤5%、（Ni）≤5% （測量20次，測量時間60s）。
測量穩定性	校正后，測量多鍍層標準片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um，各膜厚的COV:（Au）≤3%、（Pd ）≤5%、（Ni ）≤3%（測量20次，測量時間60s）
重量	135Kg